主要规格　　

规格描述　　

X射线激发系统　　

垂直上照式X射线光学系统　　

空冷式微聚焦型X射线管，Be窗　　

标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等　　

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准　　

      75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选　　

装备有安全防射线光闸　　

二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选　　

准直器程控交换系统　　

最多可同时装配6种规格的准直器　　

多种规格尺寸准直器任选：　　

－圆形，如4、6、8、12、20 mil等　　

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等　　

测量斑点尺寸　　

在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)　　

在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)　　

样品室　　

CMI900　　

CMI950　　

－样品室结构　　

开槽式样品室　　

开闭式样品室　　

－最大样品台尺寸　　

610mm x 610mm　　

300mm x 300mm　　

－XY轴程控移动范围　　

标准：152.4 x 177.8mm　　

还有5种规格任选　　

300mm x 300mm　　

－Z轴程控移动高度　　

43.18mm　　

XYZ程控时，152.4mm　　

XY轴手动时，269.2mm　　

－XYZ三轴控制方式　　

多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制　　

－样品观察系统　　

高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。　　

激光自动对焦功能　　

可变焦距控制功能和固定焦距控制功能　　

计算机系统配置　　

IBM计算机　　

惠普或爱普生彩色喷墨打印机　　

分析应用软件　　

操作系统：Windows2000中文平台　　

分析软件包：SmartLink FP软件包　　

－测厚范围　　

可测定厚度范围：取决于您的具体应用。　　

－基本分析功能　　

采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。　　

样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)　　

可检测元素范围：Ti22 – U92　　

可同时测定5层/15种元素/共存元素校正　　

贵金属检测，如Au karat评价　　

材料和合金元素分析，　　

材料鉴别和分类检测　　

液体样品分析，如镀液中的金属元素含量　　

多达4个样品的光谱同时显示和比较　　

元素光谱定性分析　　

－调整和校正功能　　

系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移　　

－测量自动化功能　　

鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”　　

多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式　　

测量位置预览功能　　

激光对焦和自动对焦功能　　

－样品台程控功能　　

设定测量点　　

连续多点测量　　

测量位置预览(图表显示)　　

－统计计算功能　　

平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图　　

数据分组、X-bar/R图表、直方图　　

数据库存储功能　　

任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书　　

－系统安全监测功能　　

Z轴保护传感器　　

样品室门开闭传感器　　

操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师